VRAY Instrument Limited
Analysator voor laagdikte VR-XAU is an advanced Röntgenfluorescentie (XRF) analyzer stands at the forefront of this field, offering unparalleled accuracy and reliability in measuring coating thickness. Whether you are ensuring the quality of a protective layer, optimizing production processes, or conducting critical research, the VR-XAU is your indispensable partner. The VR-XAU boasts advanced capabilities that cater to a wide range of applications across various industries, from aerospace to automotive, electronics to precious metals.
Voordelen:
- Optisch pad naar beneden
- Customized SI-PIN detector
- Non-destructive zoom detection technology, manual zoom function
- Advanced EFP algorithm and low-light focusing technology
- Geavanceerde spectrumontleding, Verminder de interferentie van aangrenzende elementspectra, Verbeter de nauwkeurigheid en detectielimiet van de test.
Toepassing
Bepaling van de plaatdikte en zuiverheid van edele metalen in de juweliersindustrie
Hardware-accessoires Plateren Inspectie en kwaliteitscontrole
Inspectie en kwaliteitscontrole van elektronische componenten
Inspectie en kwaliteitscontrole van auto-onderdelen
Bekijk de detectie van plating
Kwaliteitscontrole bij de productie van sieraden, Gold Purification Plant
