| Analysis Method: | X-ray Fluorescence (XRF) | Analysis Range: | K~U |
|---|---|---|---|
| Aplicação: | Precious Metal Analysis | Detetor: | Si-pin |
| Model: | VR-T5 | Software: | Intuitive Touch Screen Interface |
| Power Supply: | AC 220V±5V 50Hz(The Configuration Varies Slightly By Region) | Temperatura: | 10°C-35°C |
Precious Metal Analyzer VR-T5
Precious Metal Analyzer VR-T5 é uma fluorescência de raios X avançada (XRF) analisador projetado para rápida, preciso, e ensaios não destrutivos de diversos materiais. Ele utiliza um design de análise down-top, Software de algoritmo Multi-FP, Tecnologia de agregação de microluz, e um dispositivo de medição de distância de zoom de alta sensibilidade. VR-T5 é amplamente utilizado em vários setores, incluindo joias, metais preciosos, mineração, Laboratório de Reciclagem e Inspeção de Ouro.
Specifications:
| Tamanho da máquina: | 330 x580 x 360 milímetros |
| Tamanho da câmara de amostra: | 320 x 480 x 130mm |
| Peso: | 40Kg |
| Detetor: | Detector Si-Pin |
| Analysis range | K~U |
| Fonte de alimentação: | AC 220V±5V 50Hz(A configuração varia ligeiramente de acordo com a região) |
| Alvo da fonte de excitação: | W Tungsten |
| Potência nominal: | 100Em |
| Temperatura: | 10°C-35°C |
| Humidade: | 40%-70% umidade relativa, sem condensação |

Advangta
ges:
- Software de algoritmo Multi-FP
- Operação inteligente, Medição e análise do valor dos metais preciosos
- Optional micro-focus X-ray device-able to test various tiny samples
- Medição de baixo para cima, sem necessidade de foco adicional, fácil de ter alta eficiência- medição de amostra de revestimento.
- Capaz de testar várias amostras de sulcos em forma, faixa de medição de profundidade do sulco:0~30mm
- Equipado com uma plataforma manual X-Y de alta precisão, a mais alta precisão pode alcançar 25 μm, tornando a medição de microárea mais conveniente.











