| Analysis Method: | X 射线荧光 (XRF光谱仪) | Analysis Range: | K~U |
|---|---|---|---|
| 应用: | Precious Metal Analysis | 探测器: | Si-pin |
| Model: | VR-T5系列 | 软件: | Intuitive Touch Screen Interface |
| Power Supply: | 交流 220V±5V 50Hz(The Configuration Varies Slightly By Region) | 温度: | 10°C-35°C |
Precious Metal Analyzer VR-T5
贵金属分析仪 VR-T5 是一种先进的 X 射线荧光分析仪 (XRF光谱仪) 专为快速设计分析仪, 准确, 以及各种材料的无损检测. 它采用俯下层分析设计, 多FP算法软件, 微光聚合技术, 以及高灵敏度变焦距离测量装置. VR-T5广泛应用于多个行业, 包括珠宝, 贵金属, 采矿, 黄金回收和检验实验室.
Specifications:
| 机器尺寸: | 330 x580 x 360毫米 |
| 样品室尺寸: | 320 x 480 x 130毫米 |
| 重量: | 40公斤 |
| 探测器: | Si-Pin探测器 |
| Analysis range | K~U |
| 电源: | 交流 220V±5V 50Hz(配置因地区而略有不同) |
| 激励源 目标: | W Tungsten |
| 额定功率: | 100W |
| 温度: | 10°C-35°C |
| 湿度: | 40%-70% 相对湿度, 无冷凝 |

Advangta
ges:
- 多FP算法软件
- 智能操作, 贵金属价值测量与分析
- Optional micro-focus X-ray device-able to test various tiny samples
- 自下而上测量, 无需额外关注, 易于实现高效率- 涂层样品的精确测量.
- 能够测试各种形状的凹槽样品, 凹槽深度测量范围:0~30毫米
- 配备高精度手动X-Y平台, 最高精度可以达到 25 微米, 让微面积测量更方便.











